現場で瞬時に非接触測定可能!
4D InSpecR サーフェイスゲージは、表面の凹凸形状、欠陥を非接触で測定するハンディタイプの精密測定機です。
米国航空機部品メーカーとタイアップし考案され、マイクロメータレベルの分解能で、携帯性・使いやすさに優れ、工場フロアや加工現場環境で短時間で測定することが可能です。
特徴
◆ハンディタイプで簡単に使える表面欠陥検査ツール
表面の凹凸形状、欠陥を非接触で瞬時に測定。
5.0μm~2.5mm(XLで7μm~9mm)までの測定レンジで、複雑形状のワークも簡単測定。
◆大型部品の測定も容易に可能
マイクロメータメータレベルの分解能を有し、携帯性、使いやすさに優れ、工場フロアや機械加工現場環境で高分解能測定が可能
◆ボアスコープのように内径面の測定も可能
オプションのフォールドミラーを取り付けることにより、ボアスコープのように今まで測定が出来なかった箇所の測定も可能
装置仕様
項目 | 仕様 | ||
機種 | 4D InSpec | 4D InSpec XL | |
本体仕様 | 測定 | 非接触3D表面測定システム | |
高さ方向測定範囲 | 5.0μm~2.5mm | 7.0μm~9mm | |
測定視野 | 7.7mm × 7.7mm | 15mm × 15mm | |
横方向分解能 | 4μm | 7.5μm | |
縦方向分解能 | 4μm | 7μm | |
作動距離 | 35mm | 54mm | |
性能 | ノイズフロア※1 | <4μm | <7.0μm |
繰り返し精度 (縦方向)※2 | <0.15μm | <0.5μm | |
ステップ高さ精度※3 | <1% | <0.5% | |
焦点深度 | >2.5mm | >9mm | |
最低表面粗さ | >60nm Ra(0.06μm Ra) | >120nm Ra(0.12μm Ra) |
※1. 4D校正用サンプル上の2つの測定値の平均Ra
※2. 4D校正用サンプルで30回測定の1σRa
※3. 100~900μm高さのISO認定サンプルに対しての差分
自動表面欠陥測定
航空、航空宇宙、その他のアプリケーションにおける検査のスループットと品質を大幅に向上。
4D InSpec Automated Measurement System (AMS)は、高スループット、高解像度の欠陥・形状測定ソリューションです。
自動化されたシステムは、何十ものエッジブレイクフィーチャー、面取り、半径を数分で測定することができ、スループットを大幅に改善し、測定コストを削減します。
-プロセスの歩留まりと品質を最大化-
4D InSpec AMS システムは、非接触 4D InSpec または 4D InSpec XLサーフェスゲージと、協働ロボットおよびその他の自動化装置を組み合わせ、迅速な生産測定を実現します。
モニターマウント用アーム付きLCDカート
タッチスクリーンモニター取り付け時
フォールドミラーキット
500W携帯UPS及び電源キット
校正標準片(ISO保証書付き)
バックパック
フレキシブルアーム
動画
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